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原來三維表面形貌測量儀還可以應用在這些領域中

更新時間：2022-07-08      點擊次數：836
　　隨著半導體技術的電子技術工藝的發展，電子產品都往小型化，輕薄化發展。iWatch的一經推出，穿戴電子產品成為了一個新的電子設備應用潮流。隨著電子產品的小型化，器件體積越做越小，空間就緊湊起來，這對器件加工尺寸及工藝的容差要求就越來越高。如何管控器件的尺寸及加工工藝對檢測手段提出了新的挑戰。原來很多制程工序只要管控2D的尺寸，現在需要管控3D的尺寸，而且精度要求都在微米級別，這就需要一個高速、高精度的測量手段來管控生產品質。
 
　　三維表面形貌測量儀應運而生，這款儀器采用非接觸式線光譜共焦快速掃描技術，能夠高精度還原產品的3D結構，對肉眼不可見的結構缺陷都能準確檢測。因為具有較快的掃描速度，微米級別的精度和較強的穩定性，一經推出立馬成為精密生產商的新寵。在精密鑄件、精密點膠、3D玻璃，半導體缺陷檢測和多層光學薄膜厚度檢測，就是這款產品的主要應用領域。

　　三維表面形貌測量儀的主要應用：
　　1、3D玻璃缺陷檢測；
　　2、半導體表面缺陷測試；
　　3、多層薄膜厚度測試；
　　4、精密部件3D尺寸及段差測試；
　　5、精密點膠膠線截面、膠線寬度、膠線高度測試。
 
　　產品特性：
　　1、采用白光共聚焦色差技術，可獲得納米級的分辨率；
　　2、測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高；
　　3、測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料；
　　4、尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面；
　　5、不受樣品反射率的影響；
　　6、不受環境光的影響；
　　7、測量簡單，樣品無需特殊處理。
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